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//2024.08.14
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阵列式磁条测试主控板程序编写，屏幕背光点亮成功，主控板晶振错误，延时程序无法使用
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//2024.08.16
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ADS1220调试，差分输入信号较小，需要提高增益，将增益设为32，连续转换，DR = 1000sps
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//2024.08.20
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编码器调试通过
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//2024.08.21
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LCD屏幕调试，硬件SPI调试失败，无法绘制屏幕，后使用软件模拟SPI,调试成功，屏幕显示正常
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//2024.08.22
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按键调试，线性度计算逻辑程序编写，程序设定1ms读取一次ADS1220数据和编码器数据，在位移超过0.5mm时采集一个数据点，按键控制测试的开始与结束
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//2024.08.23
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USB调试，USB与编码器时钟冲突，开启USB会导致编码器无法使用
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//2024.08.26
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增设历史记录功能，可查看前十次所测线性度
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LVGL程序移植
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//2024.08.29
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基于LVGL使用guider进行界面UI设计并验证，验证通过
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//2024.09.02
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屏幕界面切换会导致系统重启，检查后发现原因为主界面定时任务在切换界面后未关闭，关闭后不再重启
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//2024.09.03
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GUI界面优化
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//2024.09.06
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GUI画图方式优化，打开图表界面可能导致装置死机，初步确定为数据点添加过快导致，改变画图方式为在打开图表界面后逐渐绘制完成，死机问题不在出现
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//2024.09.09
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原先历史记录只能查看线性度，考虑到历史数据点较多，决定将其存储至外部eeprom中，调整之后，历史记录可查看前十次测试的数据曲线、线性度、磁条类型、
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运动方向和最大偏差位置
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//2024.09.18
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增加ADS1230驱动程序，ADS1230最大转换速率为80SPS，远小于使用ADS1220的转换速率1000SPS，不能满足原先1ms采样一次的要求，且ADS1230增益只有64和128可选，
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增益过大，需调整硬件电路，建议仍然使用ADS1220芯片
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//2024.09.20
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磁条测试所得结果不一致，有时得到的线性度超过20%
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分析发现由于测试工装长度增加，原先最大存储300个数据点的数组空间不够，可能出现溢出现象，增大空间后，问题有所改善，但仍会出现
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调试发现，当磁条距离采样位置较远时，采样电压接近于0，磁条中心电压也为0，这导致原先利用电压为0的点确定磁条中心点的方法出错，误将离磁条
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较远的点定为中心点，故测试结果出错，优化找寻方法，在找寻前限制范围，以测试过程中的最大电压点和最小电压点之间的范围为中心点存在的范围，
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再去确定中心点位置，修改后测试结果正确。 |